Tủ thử tia tử ngoại cho pin mặt trời ( BR-UL-UVE) là một trong những thiết bị không thể thiếu trong quá trình
kiểm tra chất lượng pin mặt trời của các nhà máy sản xuất, hoạt động theo tiêu chuẩn: IEC 61730-1:2016, UL 1703-2015: tiêu chuẩn cho vật liệu polymer VDE 0126-5: 2008: tiêu chuẩn thử nghiệm khả năng kháng điều kiện thời tiết, VDE 0126-3: 2009: tiêu chuẩn cho bộ Kết nối Kháng thời tiết, dải quang phổ phù hợp với ISO 4892-2-2006 ETAG 002-2000, ASTM C1184-2000: Thử nghiệm tuổi thọ UV của keo silicone, dải quang phổ phù hợp với tiêu chuẩn ASTM G155-2005.
Quang phổ sau khi lọc đối chiếu theo tiêu chuẩn ASTM G155:
| Dải bước sóng |
Khả năng truyền dẫn sau khi lọc |
Điểm chuẩn NLMT |
ASTM G155 |
Khả năng phóng tia sau khi lọc |
| (<290nm) |
0.01% |
0~0.15% |
0~0.15% |
0.02% |
| (290~320nm) |
2.85% |
5.80% |
2.6~7.9% |
4.34% |
| (320~360nm) |
23.90% |
40.00% |
28.3~40.0% |
36.46% |
| (360~400nm) |
38.79% |
54.20% |
54.2~67.5% |
59.18% |
| Tổng UV |
65.54% |
100.00% |
100.00% |
100.00% |
Thông số kỹ thuật cơ bản của tủ thử tia tử ngoại:
- Diện tích chiếu xạ hiệu quả: 500 × 400mm
- Điểm hoặc phạm vi đo: 300 ~ 400nm, 290 ~ 800nm, 340nm / nm, 420nm / nm
-Độ đồng đều của chiếu xạ: > ± 10% ở mức 312 × 312mm
- Độ lệch chiếu xạ: ± 2W / m2 @ 300 ~ 400nm
- Phạm vi kiểm soát nhiệt độ: RT ~ 90 ° C ± 2,5 ° C
- Phạm vi kiểm soát nhiệt độ không khí: 20 ~ 80 ° C
- Bao gồm: máy nén lạnh và hệ thống phun sương
- Chương trình điều khiển cho phóng xạ, nhiệt độ và phun
- Bộ lọc DayLight: cho hộp nối và kiểm tra đầu nối, dải quang phổ phù hợp với yêu cầu của ASTM G155 và ISO 4892-2.
- Bộ lọc AM1.5 (tùy chọn)
VN
EN