Có thể nói công nghệ pin ngày càng tiến bộ, nhằm đáp ứng nhu cầu ngày càng cao cho các nhà sản xuất điện thoại di động, máy tính xách tay, các thiết bị điện tử khác cho đến ô tô. Việc kiểm tra độ bền của pin đặc biệt là thử nghiệm nén đóng vai trò quan trọng trong quy trình xác nhận tiêu chuẩn trước khi đưa vào sử dụng.

Việc kết hợp công nghệ phát triển và thu nhỏ các bộ phận đòi hỏi các yêu cầu thử nghiệm mới để đáp ứng các tiêu chuẩn an toàn. Những đặc điểm và sự đánh giá tính chất cơ học vật liệu, tế bào cấu trúc bên trong là rất quan trọng vì chúng phải chịu áp lực của lực và áp lực trong quá trình sản xuất và sử dụng hàng ngày của người tiêu dùng.

Vậy Giải pháp để những chiếc pin này đáp ứng được yêu cầu tiêu chuẩn chịu áp lực là gì?

Instron cung cấp nhiều giải pháp để thử nghiệm nén pin có thể được sử dụng cho nghiên cứu và phát triển, cũng như việc kiểm soát chất lượng. Lựa chọn phiến ép thử nén – compression platen phù hợp là rất quan trọng cho thử nghiệm này. Với các kích cỡ đường kính khác nhau đòi hỏi người sử dụng phải lựa chọn loại phù hợp với kích cỡ từng phần và những yêu cầu về công suất.

Mũi thử đâm xuyên – punture probes cũng có sẵn với những kích thước khác nhau và cung cấp khả năng nén đa điểm ở các khu vực cục bộ, cho phép bạn đánh giá các thành phần quan trọng và tính nhất quán cường độ của pin.

Ngoài ra, Instron cũng cung cấp các tùy chọn thiết lập cho bộ gá thử nghiệm, phù hợp cho các phòng nghiên cứu, phát triển cũng như các giải pháp hoàn toàn tự động.

Một số hệ thống thử nghiệm có thể thích hợp cho thử nghiệm nén pin điện thoại:

  • Hệ thống máy kéo nén vạn năng Instron 5900 (xem chi tiết tại link)
  • Hệ thống máy kéo nén vạn năng Instron 3300 (xem chi tiết tại link)
  • Phần mềm Bluehill Universal (xem chi tiết tại link)
  • Hệ thống tự động XY Stage (catalog)
Hệ thống kiểm tra sức bền vật liệu Instron 3300
Hệ thống kiểm tra sức bền vật liệu Instron 5900

This post is also available in: enEnglish