Hi-Drop Test là hệ thống đo điện trở đa kênh tốc độ cao được thiết kế để thử nghiệm thả rơi PCB theo tiêu chuẩn JEDEC của
ChiefSi. Tốc độ lấy mẫu tối đa trên mỗi kênh của Hi-Drop Test là 1MS/s với độ phân giải 16 bit. Khả năng chống ồn đảm bảo độ chính xác của dữ liệu đo. Hệ thống có thể đo đồng bộ bằng máy kiểm tra độ rơi và điều kiện NG của từng kênh có thể được đặt độc lập.
Hi-Drop Test cũng có thể tự động ghi lại các sự kiện và kiểm tra dạng sóng.
Tính năng của hệ thống đo điện trở đa kênh Hi-Drop test:
- Đo điện trở tốc độ cao với tốc độ lấy mẫu/kênh 1MS/s.
- Hệ thống đo PXI thông số kỹ thuật cao, lên tới 64 kênh.
- Đánh giá NG tự động theo tiêu chí JEDEC.
- Độ chính xác cao và khả năng chống ồn.
- Tự động kiểm tra bằng trình kiểm tra độ rơi hiện có.
- Đo điện trở và gia tốc trên 10000 g kết hợp với mô-đun gia tốc.
- Đo điện trở và biến dạng kết hợp đồng bộ với module biến dạng.
- Phân tích thời gian thực về gia tốc, vận tốc và thời gian đạt đỉnh.
- Phân tích xu hướng cho một số thử nghiệm thả rơi.
- Hiển thị dữ liệu ngay lập tức, ghi nhật ký, phân tích và tạo báo cáo.
Tham khảo thêm 1 số thiết bị đo của ChiefSi
VN
EN